Patent & Certification

특허

No. 발명의 명칭 등록번호 출원일
1 3차원 형상 측정 장치 10-0992029 (ROK) 2006. 12. 11.
2 빔 스캐닝 방식의 크로마틱 공초점 현미경 10-0964251 (ROK) 2008. 8. 8.
3 리니어 터렛 스캐너 10-1032434 (ROK) 2011. 3. 18.
4 빔 편향 장치 10-1119815 (ROK) 2011. 4. 5.
5 다중 검출 공초점 현미경 10-1181395 (ROK) 2012. 9. 4.
6 색 필터를 이용한 파장 검출기 및 상기 파장 검출기를 구비한 고속 크로마틱 공초점 현미경 10-1368486 (ROK) 2012. 11. 5.
7 공초점 라인스캔 카메라 및 이를 포함한 공초점 현미경 10-1612512 (ROK) 2014. 8. 4.

인증서

iso-9001-1

<ISO 9001>

iso-14001-1

<ISO 14001>

NS3500EMC-CE-3519-2

<CE NS3500>

K1-Fluo_EMC(CE)-1

<CE K1-Fluo>

6-NS-Raman_EMC(CE)_EN-61326-61000-1

<CE NS-Raman>

NS-Raman_EMC(CE)_EN-301-489-1,17

<KC NS-Raman>

나노스코프시스템즈

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